Audiencias - Año 2024 - Emma De Ramón - Audiencia BC003AW1634247

Información General
Identificador BC003AW1634247
Fecha 2024-09-10 10:00:00
Forma Presencial
Lugar Oficina de Dirección Archivo Nacional de Chile, Miraflores N°50
Duración 1 horas, 0 minutos
Asistentes
Nombre completo Calidad Trabaja para Representa a
Dirk Von Streit Gestor de intereses Dirk von Streit Schwenke
Materias tratadas
Ninguna de las anteriores
Especificación materia tratada
Con fecha 10 de septiembre de 2024, se llevó a cabo una reunión en la Dirección del Archivo Nacional, en la que participaron el Sr. Dirk Von Streit Schwenke, representante de la empresa SMA Scanners Alemania, y la directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón.
Durante el encuentro, el Sr. Von Streit Schwenke presentó una amplia gama de escáneres de alta tecnología, diseñados específicamente para optimizar los procesos de digitalización en sectores como archivos, bibliotecas y control de calidad. Los productos presentados incluyen escáneres de libros, tanto manuales como robóticos, escáneres de documentos de gran formato y escáneres de microfilm. Destacan por su alta resolución óptica, velocidad y precisión geométrica, lo que mejora significativamente la productividad y asegura una preservación a largo plazo de documentos valiosos.
Además, se resaltó que algunos de estos escáneres incorporan tecnología de inteligencia artificial (IA), lo que optimiza la calidad del escaneo al corregir imágenes automáticamente y mejorar la eficiencia de los procesos. Esta tecnología es particularmente beneficiosa en la preservación de documentos históricos y culturales, permitiendo digitalizar grandes volúmenes de información con alta fidelidad.
La directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón, valoró la propuesta presentada y decidió enviar la información detallada al Sr. Mauricio Hernández, Coordinador de Desarrollo Tecnológico, para que realice un análisis más profundo de los productos.